摘要：拓扑绝缘体和拓扑半金属是近年来凝聚态物理领域的研究热点。单层ZrTe₅被理论预言为二维拓扑绝缘体，而体材料ZrTe₅的拓扑性质很难确定。在实验上一直对ZrTe₅的拓扑性质存在争议，包括是否为拓扑绝缘体或拓扑半金属。我们利用扫描隧道显微镜对ZrTe₅表面进行了原子尺度表征，发现体材料的ZrTe₅表面同样具有二维拓扑绝缘体性质，从而推断ZrTe₅为二维拓扑绝缘体材料。单层1T’-WTe₂也被理论预言为二维拓扑绝缘体，然而实验上一直没有证实。我们利用分子束外延成功生长出单层的1T’-WTe₂, STM研究结果显示为在低温下是二维拓扑绝缘体。

报告人简介： 李绍春 现任南京大学物理学院教授。1999年于北京大学物理系获得学士学位，2004年于中科院物理所获得凝聚态博士学位。2005年到2012年期间，先后在美国宾州州立大学、德州大学奥斯汀分校、杜兰大学和哈佛大学做博士后和研究助理教授。2012年入选中组部第二批青年千人计划。主要研究方向为利用扫描隧道显微镜（STM）和分子束外延（MBE）技术研究原子尺度下的表面物理和化学。近年来的研究兴趣主要是拓扑绝缘体材料，包括实验验证拓扑绝缘体以及对其性质的调控，寻找基于拓扑绝缘体的异质结构中的奇异物理性质。迄今为止已发表论文50余篇，包括Science 1篇，Phys.Rev.Lett.8篇，J.Am.Chem.Soc.6篇，Nano Lett.1篇。

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